掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是一種能夠在納米尺度上研究樣品表面形貌和物理化學(xué)性質(zhì)的高分辨率顯微鏡。它通過探針與樣品表面相互作用，檢測兩者之間的物理量變化，從而實(shí)現(xiàn)成像。其廣泛應(yīng)用于物理學(xué)、化學(xué)、材料科學(xué)、生物學(xué)和納米技術(shù)等領(lǐng)域。例如：研究材料的表面形貌、納米結(jié)構(gòu)和原子排列；研究材料的電學(xué)、磁學(xué)、力學(xué)性質(zhì)；應(yīng)用于納米加工與操控，實(shí)現(xiàn)對器件表面的原子級別操控和成像比如原子移動(dòng)、表面修飾等。掃描探針顯微鏡憑借其高分辨率和多樣化的成像模式，已成為納米科學(xué)研究中不可或缺的工具。
| ● 模塊化設(shè)計(jì) | ● 便捷的表面處理 |
| ● 可靠的樣品轉(zhuǎn)移 | ● 低液氮、液氦消耗 |
| ● 1K pot | ● 磁場 | ● 定制控制系統(tǒng) |
| ● 音叉探針 | ● 光學(xué)通道 | ● 可擴(kuò)展光學(xué)通道 |
| ● 快速降溫與變溫測量 | ● 模塊化安裝 | ● 兼容flag樣品托及4電極樣品托 |
| ● 氦氣減振無液氦制冷機(jī)，有效隔震，降低運(yùn)行成本 |
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